高端三维形貌仪
UP-2000白光干涉仪具有精确的垂直测量范围、精确的载物台，可测量多种样品的粗糙度、台阶高度、薄膜厚度和进行形貌分析。
高速相机
具有200FPS的行业领先相机
超高的分辨率
Z向亚纳米级分辨率与物镜倍率或扫描距离无关
图像自动拼接
一键自动拼接，轻松分析整个样品
分析软件
准确且易于使用，符合ISO标准，自动分析、生成报告
非接触式形貌测量高分辨率
白光干涉测量技术用于生成表面形貌的二维和三维图像
白光干涉和相移扫描（PSI）
配备四波段LED光源（红色、蓝色、绿色、白色），它可以轻松运行白色干涉模式和共聚焦模式。无需经验，一键即可轻松测量样品。
变焦成像
通过在不同聚焦平面上拍摄的一系列图像，最终合成待测样品三维形貌。
自动拼接
通过高分辨率的全自动载物台可实现大样品的扫描并进行精确自动拼接，获取完整的三维图像。
只需启动测试软件并单击开始即可进行自动测量。
解决方案
三维光学形貌仪广泛应用于各行业
- 航空航天
- 汽车
- 生物材料
- 涂层
- 金属
- 光学和玻璃
- 聚合物
- 半导体
- 制药
- 显示器
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